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美国 狄夫斯高 defelsko 涂层测厚仪 N1

型号：N2 N3

浏览量：1001

更新时间：2024-11-01

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简要描述：

铝铜上的非导电涂层的厚度测量 美国 狄夫斯高 defelsko 镀层 涂层测厚仪 N1 N2 N3

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美国 狄夫斯高 defelsko 涂层测厚仪 N1
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域综合

铝铜上的非导电涂层的厚度测量 美国 狄夫斯高 defelsko 镀层 涂层测厚仪 N1 N2 N3


  • 4、仪器自动归零。

  • 测量厚度：
    1、在被测物表面滴少许耦合剂（如在光洁表面亦可用水做传播媒介）；

2、探头垂直放在滴有耦合剂（或水）的表面，用适中的力下压探头（用三只手指平均用力，以探头的不倾斜，有利于发送和接收声波）；



  • 4、仪器自动归零。

  • 测量厚度：
    1、在被测物表面滴少许耦合剂（如在光洁表面亦可用水做传播媒介）；

2、探头垂直放在滴有耦合剂（或水）的表面，用适中的力下压探头（用三只手指平均用力，以探头的不倾斜，有利于发送和接收声波）；



  • 4、仪器自动归零。

  • 测量厚度：
    1、在被测物表面滴少许耦合剂（如在光洁表面亦可用水做传播媒介）；

2、探头垂直放在滴有耦合剂（或水）的表面，用适中的力下压探头（用三只手指平均用力，以探头的不倾斜，有利于发送和接收声波）；



  • 4、仪器自动归零。

  • 测量厚度：
    1、在被测物表面滴少许耦合剂（如在光洁表面亦可用水做传播媒介）；

2、探头垂直放在滴有耦合剂（或水）的表面，用适中的力下压探头（用三只手指平均用力，以探头的不倾斜，有利于发送和接收声波）；



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